GPN13:Angriffe auf Sicherheits-ICs durch die Chiprueckseite: Unterschied zwischen den Versionen
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Hersteller von Sicherheits-ICs haben in den letzten Jahren viel Arbeit in die Absicherung ihrer Produkte gesteckt. Dabei konzentrierten sie sich aber hauptsaechlich auf die Vorderseite des Chips. Der Vortrag beschaeftigt sich mit der naechsten grossen Spielwiese von Chipshackern. Er beleuchtet Probingangriffe mittels Focused Ion Beam und die direkte Uberwachung von schaltenden Transistoren durch die Analyse von optischen Seitenkanaelen. | Hersteller von Sicherheits-ICs haben in den letzten Jahren viel Arbeit in die Absicherung ihrer Produkte gesteckt. Dabei konzentrierten sie sich aber hauptsaechlich auf die Vorderseite des Chips. Der Vortrag beschaeftigt sich mit der naechsten grossen Spielwiese von Chipshackern. Er beleuchtet Probingangriffe mittels Focused Ion Beam und die direkte Uberwachung von schaltenden Transistoren durch die Analyse von optischen Seitenkanaelen. | ||
[https://entropia.de/Datei:chiphacking-gpn2013.pdf slides-Chiphacking] | |||
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[[Kategorie:GPN13:Events]] | [[Kategorie:GPN13:Events]] | ||
Version vom 3. Juni 2013, 12:48 Uhr
Ein Vortrag von starbug auf der GPN13.
Hersteller von Sicherheits-ICs haben in den letzten Jahren viel Arbeit in die Absicherung ihrer Produkte gesteckt. Dabei konzentrierten sie sich aber hauptsaechlich auf die Vorderseite des Chips. Der Vortrag beschaeftigt sich mit der naechsten grossen Spielwiese von Chipshackern. Er beleuchtet Probingangriffe mittels Focused Ion Beam und die direkte Uberwachung von schaltenden Transistoren durch die Analyse von optischen Seitenkanaelen.
